獨家:NTT推算通信裝置一年至少發生3萬起“軟錯誤”

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【共同社3月22日電】21日從對日本NTT公司等的採訪獲悉,關於來自太空的放射線(宇宙射線)導致電子設備運轉暫時出錯的“軟錯誤”現象,據推算NTT國內網絡通信裝置一年中至少發生3萬至4萬起。其中大部分會被設備的安全裝置自動糾正,但專家指出該現象也可能導致通信故障。 獲悉支撐國內信息基礎設施的通信裝置發生軟錯誤的規模尚屬首次。 宇宙射線與大氣層中的氧氣或氮氣撞擊就會產生中子。這些中子與電子設備的半導體碰撞後,內部保存的數據被改寫引發錯誤的現象即為軟錯誤。隨著半導體小型化、高性能化的電子設備驟增,軟錯誤也在增多。除引起電腦和手機死機外,在海外還出現過被指為飛機事故原因的情況。 熟悉軟錯誤問題的大阪大學研究生院教授橋本昌宜表示,在國內外的通信和工廠也已造成實際損害,並指出:“今後,人工智能(AI)和自動駕駛等社會基礎設施對電子設備的依賴度越高,就越有可能產生較大影響。”他強調政府和企業等有必要推進研究和應對。 軟錯誤無法像物理性故障一樣再現,難以鎖定原因和採取對策。為此,NTT通過向半導體照射中子的實驗測定軟錯誤的發生頻率。該公司推算出其在日本國內的服務器等通信裝置每天會發生約100起軟錯誤。 NTT未透露是否實際發生通信故障,但表示“基於實驗和推算,已確認設備設計和安全裝置的性能,正在採取避免信息基礎設施受到較大影響的對策”。(完)

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